半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

北京 創業 專業鑄造品質
該系列儀器的技術指標均滿足 計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上 的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子(zi)數，并能(neng)選擇觀(guan)察其中某一粒徑粒子(zi)的數目及其變(bian)化情況，對于(yu)研究、檢測和(he)評(ping)價各種潔凈(jing)環境都十(shi)分(fen)方便(bian)。該(gai)系列儀器性能(neng)設計、質(zhi)量穩定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

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　　該系(xi)列產品已被廣(guang)泛應(ying)用于潔凈(jing)室檢測；過濾器(qi)現(xian)場檢測、撿(jian)漏(lou)；可(ke)監(jian)測凈(jing)工作臺(tai)、生物 柜(ju)，HVAC系(xi)統，計算機(ji)室、飲料包(bao)裝環境(jing)(jing)(jing)，醫療器(qi)械(xie) 環境(jing)(jing)(jing)，醫院潔凈(jing)手術室，汽車(che)噴涂(tu)環境(jing)(jing)(jing)微電(dian)子、制(zhi)藥(yao)、生化(hua)制(zhi)品、食品衛生、精(jing)細化(hua)工、精(jing)密機(ji)械(xie)和(he)航空航天(tian)等 和(he)科研(yan)部門，是制(zhi)藥(yao)企業及其監(jian)督管理(li)部門貫(guan)徹(che)GMP規范及電(dian)子 企業的儀器(qi)。 北(bei)京 創業 專業鑄造品質

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

主要技(ji)術參(can)數(shu)及性能：

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

質
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國 標準技術協會（NIST），我公司已通過 計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方 計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內(nei)置打印機(ji)、自動(dong)判斷凈(jing)化等(deng)(deng)級、等(deng)(deng)動(dong)力(li)采樣頭(tou)、采樣架

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D